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采購熱電阻溫度計

簡要描述:

采購熱電阻溫度計
熱電阻(RTD)溫度計,適用于衛生和無菌應用場合
公制型儀表,采(cai)用通用技術

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采購熱電阻溫度計

熱電(dian)阻(RTD)溫(wen)度計,適用于衛生和(he)無菌應用場合

公(gong)制型儀表,采用通用技術

適用于所有標準應用場(chang)合,帶固(gu)定不可更(geng)換鎧裝 芯子

采購熱電阻溫度計

應用

• 專門設計用(yong)于(yu)食品&飲料和生(sheng)命科學行(xing)業中的衛(wei)生(sheng)和無(wu)菌應用(yong)場合

• 測量范圍為–50…+200 °C (–58…+392 °F)

• Z大(da)壓力為 50 bar (725 psi)

• Z高防護等為 IP69K

• 可以在非防爆區域中使用

模(mo)塊化變(bian)送器

相比(bi)于不(bu)經過溫(wen)度變送器而直(zhi)接接線的(de)測(ce)量方法,Endress+Hauser 能為用(yong)戶提供 高測(ce)量精(jing)度、高測(ce)量可靠性的(de)溫(wen)度變送器。根(gen)據實際工況(kuang)條件,選(xuan)擇(ze)下列(lie)信(xin)號輸出 和(he)通信(xin)方式:

4…20 mA HART®模擬(ni)量(liang)輸出

優勢(shi)

• 高性(xing)價(jia)比和發貨迅速

• 用戶友(you)好且可靠的從產品選型至(zhi)維護過程(cheng)

• 認(ren)(ren)證:衛生型標(biao)準,符(fu)合 3-A®認(ren)(ren)證、EHEDG 測試(shi)、ASME BPE 認(ren)(ren)證、FDA 認(ren)(ren)證、TSE 適用性認(ren)(ren)證

• 提供多種過(guo)程連接

測量原理(li)

熱電阻(RTD)

熱電阻采用符(fu)合 IEC 60751 標(biao)準的 Pt100 溫(wen)度傳(chuan)感器。溫(wen)度傳(chuan)感器為(wei)溫(wen)度敏感性鉑(bo)熱電阻,阻抗 為(wei) 100 ? (0 °C (32 °F)時(shi)),溫(wen)度系(xi)數(shu)為(wei) α = 0.003851 °C-1。

通常,有(you)兩種不同類型的(de)鉑熱(re)電(dian)阻(zu):

• 繞線式(shi)(shi)(WW):由(you)兩(liang)根(gen)細的(de)(de)高純度(du)鉑絲在(zai)陶(tao)瓷載體(ti)內(nei)繞制(zhi)而成,并通過陶(tao)瓷保護(hu)層(ceng)在(zai)載體(ti)頂部 和底(di)部對鉑絲進行密封處(chu)理(li)。此(ci)類熱電阻具(ju)有(you)高可重(zhong)現性,過程溫(wen)度(du)高達 600 °C (1112 °F)時, 仍能保證(zheng)良好的(de)(de)阻抗-溫(wen)度(du)關系的(de)(de)長(chang)期穩定(ding)性。繞線式(shi)(shi)(WW)熱電阻的(de)(de)體(ti)積較大(da),抗振性較差。

• 薄膜(mo)式鉑電阻溫度計(TF):在(zai)真(zhen)空狀態下,將厚度約為 1 μm 的(de)(de)超高純度鉑層(ceng)汽(qi)化(hua)固定在(zai)陶瓷基 板上,光刻制作而(er)成。由此構成的(de)(de)鉑導體形成測量阻抗。附加(jia)覆(fu)蓋層(ceng)和(he)鈍化(hua)層(ceng)可靠保護薄鉑 層(ceng),防止高溫條(tiao)件下出現氧化(hua)和(he)污染。

薄(bo)膜式(shi)(shi)(TF)熱(re)(re)電阻與繞(rao)線(xian)式(shi)(shi)(WW)熱(re)(re)電阻相比,突出優點為較(jiao)小的(de)體(ti)積和較(jiao)好(hao)的(de)抗振性(xing)。高溫條件 下(xia),薄(bo)膜式(shi)(shi)(TF)熱(re)(re)電阻的(de)阻抗-溫度(du)關系偏差較(jiao)小,符合(he) IEC 60751 標(biao)準。因此,薄(bo)膜式(shi)(shi)(TF)熱(re)(re)電阻的(de)溫度(du)測(ce)量誤差可達溫度(du)等(deng) A,符合(he) IEC 60751 標(biao)準(Z高溫度(du)約為 300 °C (572 °F))。所以, 薄(bo)膜式(shi)(shi)(TF)熱(re)(re)電阻通常(chang)僅在溫度(du)低(di)于 400 °C (752 °F)的(de)條件下(xia)測(ce)量。


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