熱電阻溫度計選型

熱電阻(RTD)溫度(du)計(ji)，適用于(yu)衛生和無菌應用場合

公(gong)制型儀表，采用通(tong)用技術

適用(yong)于所有標準應用(yong)場(chang)合，帶固定(ding)不(bu)可更換鎧裝 芯(xin)子

熱電阻溫度計選型

應用

• 專門設計(ji)用(yong)(yong)于食品&飲料和生(sheng)命科學行業中的(de)衛(wei)生(sheng)和無菌(jun)應用(yong)(yong)場合

• 測量范圍(wei)為–50…+200 °C (–58…+392 °F)

• Z大壓力(li)為 50 bar (725 psi)

• Z高(gao)防護等為 IP69K

• 可以在非防爆區域中使(shi)用(yong)

測(ce)量原理

1。

通常，有(you)兩種不同(tong)類型的鉑(bo)熱電(dian)阻：

• 繞(rao)(rao)線式(WW)：由兩根細的高(gao)純度鉑絲(si)在(zai)陶(tao)瓷(ci)載體(ti)內繞(rao)(rao)制(zhi)而成，并通過陶(tao)瓷(ci)保護層在(zai)載體(ti)頂(ding)部(bu) 和底部(bu)對(dui)鉑絲(si)進行(xing)密封處理。此類熱(re)電(dian)阻具有高(gao)可重現(xian)性，過程(cheng)溫(wen)度高(gao)達 600 °C (1112 °F)時， 仍能(neng)保證(zheng)良好的阻抗-溫(wen)度關(guan)系的長(chang)期穩定性。繞(rao)(rao)線式(WW)熱(re)電(dian)阻的體(ti)積較(jiao)大，抗振性較(jiao)差。

• 薄膜(mo)式鉑(bo)電阻(zu)溫(wen)度計(TF)：在真空狀態下，將厚度約為 1 μm 的超高(gao)純度鉑(bo)層汽(qi)化(hua)(hua)固定在陶瓷基 板上，光(guang)刻制(zhi)作而成(cheng)。由此構成(cheng)的鉑(bo)導體形成(cheng)測量阻(zu)抗。附加覆蓋(gai)層和鈍化(hua)(hua)層可靠保護薄鉑(bo) 層，防止高(gao)溫(wen)條件下出現氧化(hua)(hua)和污染。

薄(bo)膜(mo)式(TF)熱(re)(re)電(dian)阻與(yu)繞線式(WW)熱(re)(re)電(dian)阻相比(bi)，突出優(you)點為(wei)較小(xiao)的(de)體積和較好的(de)抗(kang)(kang)振性。高溫(wen)(wen)(wen)(wen)條(tiao)件 下，薄(bo)膜(mo)式(TF)熱(re)(re)電(dian)阻的(de)阻抗(kang)(kang)-溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)關系偏差(cha)較小(xiao)，符合(he) IEC 60751 標(biao)準(zhun)。因此，薄(bo)膜(mo)式(TF)熱(re)(re)電(dian)阻的(de)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)測(ce)量誤差(cha)可達溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)等 A，符合(he) IEC 60751 標(biao)準(zhun)(Z高溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)約(yue)為(wei) 300 °C (572 °F))。所以， 薄(bo)膜(mo)式(TF)熱(re)(re)電(dian)阻通常僅在溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)低于 400 °C (752 °F)的(de)條(tiao)件下測(ce)量。

Endress+Hauser 提(ti)供用(yong)于溫度測(ce)量點(dian)的(de)整套優化(hua)部件，包括將測(ce)量點(dian)無縫集成至整個工廠中的(de)所 有所需部件。包括：

• 電源單元/隔離柵

• 顯示單元

• 過電壓保護單(dan)元(yuan)