熱電阻溫度計選型

熱電阻(RTD)溫度計，適(shi)用于衛生和無(wu)菌應用場合

公制型儀表，采(cai)用通用技術

適用于所有標(biao)準應用場合，帶固定不可更換鎧(kai)裝 芯子

熱電阻溫度計選型

應用

• 專(zhuan)門設(she)計(ji)用于食品&飲料和生命科學(xue)行業中的衛生和無(wu)菌(jun)應用場合

• 測量范圍為–50…+200 °C (–58…+392 °F)

• Z大壓力為 50 bar (725 psi)

• Z高(gao)防護(hu)等為 IP69K

• 可(ke)以在(zai)非防(fang)爆區域中使用

測量(liang)原理

1。

通常(chang)，有兩種不(bu)同(tong)類型的鉑熱電阻(zu)：

• 繞(rao)線式(shi)(shi)(WW)：由兩根細的高(gao)純度(du)鉑絲在(zai)陶(tao)瓷載體(ti)內(nei)繞(rao)制(zhi)而成，并(bing)通(tong)過陶(tao)瓷保(bao)護(hu)層在(zai)載體(ti)頂(ding)部 和底部對(dui)鉑絲進行密封處理。此類熱電阻具(ju)有(you)高(gao)可重現(xian)性(xing)，過程溫度(du)高(gao)達 600 °C (1112 °F)時， 仍能保(bao)證良好的阻抗-溫度(du)關系的長期穩定性(xing)。繞(rao)線式(shi)(shi)(WW)熱電阻的體(ti)積(ji)較(jiao)大，抗振(zhen)性(xing)較(jiao)差。

• 薄(bo)膜式鉑(bo)(bo)電阻溫度(du)計(ji)(TF)：在(zai)真空(kong)狀態(tai)下，將厚度(du)約為 1 μm 的超高純(chun)度(du)鉑(bo)(bo)層(ceng)(ceng)(ceng)汽化固定(ding)在(zai)陶瓷基(ji) 板(ban)上，光刻制作而(er)成。由(you)此構成的鉑(bo)(bo)導體(ti)形(xing)成測量(liang)阻抗。附加覆(fu)蓋層(ceng)(ceng)(ceng)和鈍化層(ceng)(ceng)(ceng)可靠保護薄(bo)鉑(bo)(bo) 層(ceng)(ceng)(ceng)，防止高溫條件(jian)下出現(xian)氧化和污染(ran)。

薄膜(mo)式(shi)(shi)(TF)熱(re)電(dian)阻(zu)(zu)與繞線式(shi)(shi)(WW)熱(re)電(dian)阻(zu)(zu)相(xiang)比，突出優點(dian)為較(jiao)小的(de)(de)體(ti)積(ji)和較(jiao)好的(de)(de)抗振性。高溫(wen)條件(jian) 下(xia)，薄膜(mo)式(shi)(shi)(TF)熱(re)電(dian)阻(zu)(zu)的(de)(de)阻(zu)(zu)抗-溫(wen)度(du)關系偏(pian)差較(jiao)小，符合(he) IEC 60751 標準。因此(ci)，薄膜(mo)式(shi)(shi)(TF)熱(re)電(dian)阻(zu)(zu)的(de)(de)溫(wen)度(du)測量誤差可(ke)達(da)溫(wen)度(du)等 A，符合(he) IEC 60751 標準(Z高溫(wen)度(du)約為 300 °C (572 °F))。所以， 薄膜(mo)式(shi)(shi)(TF)熱(re)電(dian)阻(zu)(zu)通常僅在溫(wen)度(du)低于 400 °C (752 °F)的(de)(de)條件(jian)下(xia)測量。

Endress+Hauser 提供用于溫度測量(liang)點的整(zheng)套優化部件，包(bao)括將測量(liang)點無縫(feng)集成至整(zheng)個工廠中的所 有所需(xu)部件。包(bao)括：

• 電源單(dan)元/隔(ge)離(li)柵

• 顯示單(dan)元(yuan)

• 過電壓保護單元